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本视频重点讨论如何保护多路复用器免受电气过应力（EOS）影响。内容涵盖了电气过应力的成因、相关损坏机制，以及通过外部元件防护的方法。此外，视频还简要回顾了CMOS开关的基本结构和工作原理，并探讨了如何避免因过电压或ESD（静电放电）引发的常见问题如锁定现象（Latch-up）。视频结合半导体物理深入解析了锁定现象的形成机制，提供了多路复用器电路中保护措施的实际案例。观看者将了解如何在数据采集系统的前端使用多路复用器时，避免因输入信号超出电源轨而导致的器件损坏，为电路设计者提供有价值的参考。
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